Como podemos reduzir a espessura de um wafer a um nível "ultrafino"?
O que exatamente é um wafer ultrafino?
Faixas típicas de espessura (wafers de 8″/12″ como exemplos)
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Wafer padrão:600–775 μm
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Lâmina fina:150–200 μm
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Wafer ultrafino:abaixo de 100 μm
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Wafer extremamente fino:50 μm, 30 μm ou até mesmo 10–20 μm
Por que os wafers estão ficando mais finos?
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Reduzir a espessura total do pacote, diminuir o comprimento do TSV e reduzir o atraso RC.
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Reduzir a resistência em modo ligado e melhorar a dissipação de calor.
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Atender aos requisitos do produto final para formatos ultrafinos.
Principais riscos dos wafers ultrafinos
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A resistência mecânica diminui drasticamente.
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Deformação severa
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Manuseio e transporte difíceis
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As estruturas da face frontal são altamente vulneráveis; os wafers são propensos a rachaduras/quebras.
Como podemos reduzir a espessura de um wafer a níveis ultrafinos?
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DBG (Cortar em cubos antes de moer)
Corte parcialmente o wafer (sem cortá-lo completamente) para que cada chip fique pré-definido, enquanto o wafer permanece mecanicamente conectado pela parte de trás. Em seguida, lixe o wafer pela parte de trás para reduzir a espessura, removendo gradualmente o silício restante não cortado. Finalmente, a última camada fina de silício é lixada, completando a separação dos chips. -
Processo Taiko
Apenas a região central do wafer é afinada, mantendo a espessura da borda. A borda mais espessa proporciona suporte mecânico, ajudando a reduzir a deformação e o risco de manuseio. -
Colagem temporária de wafers
A colagem temporária fixa o wafer em uma superfície.transportador temporário, transformando um wafer extremamente frágil, semelhante a um filme, em uma unidade robusta e processável. O suporte sustenta o wafer, protege as estruturas da face frontal e mitiga o estresse térmico, permitindo a redução da sua espessura paradezenas de micrômetrosao mesmo tempo que permite processos agressivos como a formação de TSV, galvanoplastia e colagem. É uma das tecnologias habilitadoras mais importantes para a embalagem 3D moderna.
Data da publicação: 16/01/2026