Wafer SiC 4H-N 6H-N HPSI 4H-semi 6H-semi 4H-P 6H-P 3C tipo 2 polegadas 3 polegadas 4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas
Propriedades
4H-N e 6H-N (wafers de SiC tipo N)
Aplicativo:Utilizado principalmente em eletrônica de potência, optoeletrônica e aplicações de alta temperatura.
Faixa de diâmetro:50,8 mm a 200 mm.
Grossura:350 μm ± 25 μm, com espessuras opcionais de 500 μm ± 25 μm.
Resistividade:Tipo N 4H/6H-P: ≤ 0,1 Ω·cm (grau Z), ≤ 0,3 Ω·cm (grau P); Tipo N 3C-N: ≤ 0,8 mΩ·cm (grau Z), ≤ 1 mΩ·cm (grau P).
Rugosidade:Ra ≤ 0,2 nm (CMP ou MP).
Densidade de Microtubos (MPD):< 1 unidade/cm².
TTV: ≤ 10 μm para todos os diâmetros.
Urdidura: ≤ 30 μm (≤ 45 μm para wafers de 8 polegadas).
Exclusão de borda:De 3 mm a 6 mm, dependendo do tipo de wafer.
Embalagem:Cassete com várias pastilhas ou recipiente para uma única pastilha.
Outros tamanhos disponíveis: 3 polegadas, 4 polegadas, 6 polegadas e 8 polegadas.
HPSI (Wafers de SiC semi-isolantes de alta pureza)
Aplicativo:Utilizado em dispositivos que exigem alta resistência e desempenho estável, como dispositivos de radiofrequência, aplicações fotônicas e sensores.
Faixa de diâmetro:50,8 mm a 200 mm.
Grossura:Espessura padrão de 350 μm ± 25 μm, com opções para wafers mais espessos de até 500 μm.
Rugosidade:Ra ≤ 0,2 nm.
Densidade de Microtubos (MPD): ≤ 1 unidade/cm².
Resistividade:Alta resistência, normalmente utilizada em aplicações semi-isolantes.
Urdidura: ≤ 30 μm (para tamanhos menores), ≤ 45 μm para diâmetros maiores.
TTV: ≤ 10 μm.
Outros tamanhos disponíveis: 3 polegadas, 4 polegadas, 6 polegadas e 8 polegadas.
4H-P、6H-P&3C wafer de SiC(Wafers de SiC tipo P)
Aplicativo:Principalmente para dispositivos de alta potência e frequência.
Faixa de diâmetro:50,8 mm a 200 mm.
Grossura:350 μm ± 25 μm ou opções personalizadas.
Resistividade:Tipo P 4H/6H-P: ≤ 0,1 Ω·cm (grau Z), ≤ 0,3 Ω·cm (grau P).
Rugosidade:Ra ≤ 0,2 nm (CMP ou MP).
Densidade de Microtubos (MPD):< 1 unidade/cm².
TTV: ≤ 10 μm.
Exclusão de borda:3 mm a 6 mm.
Urdidura: ≤ 30 μm para tamanhos menores, ≤ 45 μm para tamanhos maiores.
Outros tamanhos disponíveis: 3 polegadas, 4 polegadas, 6 polegadas.5×5 10×10
Tabela de parâmetros de dados parciais
| Propriedade | 2 polegadas | 3 polegadas | 4 polegadas | 6 polegadas | 8 polegadas | |||
| Tipo | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI/4H-SEMI | |||
| Diâmetro | 50,8 ± 0,3 mm | 76,2±0,3mm | 100±0,3mm | 150±0,3mm | 200 ± 0,3 mm | |||
| Grossura | 330 ± 25 µm | 350 ±25 µm | 350 ±25 µm | 350 ±25 µm | 350 ±25 µm | |||
| 350±25µm; | 500±25um | 500±25um | 500±25um | 500±25um | ||||
| ou personalizado | ou personalizado | ou personalizado | ou personalizado | ou personalizado | ||||
| Rugosidade | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | |||
| Urdidura | ≤ 30 µm | ≤ 30 µm | ≤ 30 µm | ≤ 30 µm | ≤45um | |||
| TTV | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | |||
| Arranhar/Cavar | CMP/MP | |||||||
| MPD | <1 unidade/cm-2 | <1 unidade/cm-2 | <1 unidade/cm-2 | <1 unidade/cm-2 | <1 unidade/cm-2 | |||
| Forma | Redondo, Plano 16mm; Comprimento OF 22mm; Comprimento OF 30/32,5mm; Comprimento OF 47,5mm; ENTALHE; ENTALHE; | |||||||
| Bisel | 45°, SEMI Spec; Formato C | |||||||
| Nota | Grau de produção para MOS e SBD; Grau de pesquisa; Grau de teste; Grau de wafer semente. | |||||||
| Observações | Diâmetro, espessura, orientação e demais especificações acima podem ser personalizadas mediante solicitação. | |||||||
Aplicações
·Eletrônica de potência
Os wafers de SiC do tipo N são cruciais em dispositivos eletrônicos de potência devido à sua capacidade de suportar alta tensão e alta corrente. Eles são comumente usados em conversores de potência, inversores e acionadores de motores para indústrias como energia renovável, veículos elétricos e automação industrial.
· Optoeletrônica
Os materiais de SiC do tipo N, especialmente para aplicações optoeletrônicas, são empregados em dispositivos como diodos emissores de luz (LEDs) e diodos laser. Sua alta condutividade térmica e ampla banda proibida os tornam ideais para dispositivos optoeletrônicos de alto desempenho.
·Aplicações em Altas Temperaturas
Os wafers de SiC 4H-N e 6H-N são ideais para ambientes de alta temperatura, como sensores e dispositivos de potência usados em aplicações aeroespaciais, automotivas e industriais, onde a dissipação de calor e a estabilidade em temperaturas elevadas são cruciais.
·Dispositivos de radiofrequência
Os wafers de SiC 4H-N e 6H-N são utilizados em dispositivos de radiofrequência (RF) que operam em faixas de alta frequência. Eles são aplicados em sistemas de comunicação, tecnologia de radar e comunicações via satélite, onde alta eficiência energética e desempenho são necessários.
·Aplicações fotônicas
Na área da fotônica, as lâminas de SiC são utilizadas em dispositivos como fotodetectores e moduladores. As propriedades únicas do material permitem que ele seja eficaz na geração, modulação e detecção de luz em sistemas de comunicação óptica e dispositivos de imagem.
·Sensores
As pastilhas de SiC são utilizadas em diversas aplicações de sensores, principalmente em ambientes agressivos onde outros materiais poderiam falhar. Isso inclui sensores de temperatura, pressão e químicos, essenciais em setores como o automotivo, de petróleo e gás e de monitoramento ambiental.
·Sistemas de acionamento de veículos elétricos
A tecnologia SiC desempenha um papel significativo em veículos elétricos, melhorando a eficiência e o desempenho dos sistemas de propulsão. Com semicondutores de potência SiC, os veículos elétricos podem alcançar maior vida útil da bateria, tempos de carregamento mais rápidos e maior eficiência energética.
·Sensores avançados e conversores fotônicos
Em tecnologias avançadas de sensores, wafers de SiC são usados para criar sensores de alta precisão para aplicações em robótica, dispositivos médicos e monitoramento ambiental. Em conversores fotônicos, as propriedades do SiC são exploradas para permitir a conversão eficiente de energia elétrica em sinais ópticos, o que é vital para telecomunicações e infraestrutura de internet de alta velocidade.
Perguntas e Respostas
QO que é 4H em 4H SiC?
A"4H" em 4H SiC refere-se à estrutura cristalina do carbeto de silício, especificamente uma forma hexagonal com quatro camadas (H). O "H" indica o tipo de politipo hexagonal, distinguindo-o de outros politipos de SiC como 6H ou 3C.
QQual é a condutividade térmica do 4H-SiC?
AA condutividade térmica do 4H-SiC (Carbeto de Silício) é de aproximadamente 490-500 W/m·K à temperatura ambiente. Essa alta condutividade térmica o torna ideal para aplicações em eletrônica de potência e ambientes de alta temperatura, onde a dissipação de calor eficiente é crucial.














