Wafer epitaxial de nitreto de gálio com camada epitaxial de GaN sobre safira de 100 mm (4 polegadas)

Descrição resumida:

A folha epitaxial de nitreto de gálio é um representante típico da terceira geração de materiais semicondutores epitaxiais de banda proibida larga, que possui excelentes propriedades, como banda proibida larga, alta rigidez dielétrica, alta condutividade térmica, alta velocidade de deriva de saturação de elétrons, forte resistência à radiação e alta estabilidade química.


Características

O processo de crescimento da estrutura de poço quântico de LED azul de GaN. O fluxograma detalhado do processo é o seguinte:

(1) Cozimento em alta temperatura, o substrato de safira é primeiro aquecido a 1050℃ em uma atmosfera de hidrogênio, o objetivo é limpar a superfície do substrato;

(2) Quando a temperatura do substrato cai para 510℃, uma camada tampão de GaN/AlN de baixa temperatura com uma espessura de 30nm é depositada na superfície do substrato de safira;

(3) Elevação da temperatura para 10 ℃, o gás de reação amônia, trimetilgálio e silano são injetados, controlando-se respectivamente a taxa de fluxo correspondente, e o GaN tipo N dopado com silício de 4um de espessura é cultivado;

(4) O gás de reação de trimetilalumínio e trimetilgálio foi usado para preparar continentes A⒑ do tipo N dopados com silício com uma espessura de 0,15um;

(5) O InGaN dopado com Zn de 50 nm foi preparado pela injeção de trimetilgálio, trimetilíndio, dietilzinco e amônia a uma temperatura de 800℃ e controlando diferentes taxas de fluxo respectivamente;

(6) A temperatura foi aumentada para 1020℃, trimetilalumínio, trimetilgálio e bis(ciclopentadienil)magnésio foram injetados para preparar AlGaN tipo P dopado com 0,15um Mg e glicose sanguínea tipo P dopado com 0,5um Mg;

(7) O filme Sibuyan de GaN tipo P de alta qualidade foi obtido por recozimento em atmosfera de nitrogênio a 700℃;

(8) Gravação na superfície de estase G do tipo P para revelar a superfície de estase G do tipo N;

(9) Evaporação de placas de contato Ni/Au na superfície p-GaNI, evaporação de placas de contato △/Al na superfície ll-GaN para formar eletrodos.

Especificações

Item

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Dimensões

e 100 mm ± 0,1 mm

Grossura

4,5±0,5 µm Pode ser personalizado

Orientação

Plano C(0001) ±0,5°

Tipo de condução

Tipo N (Não dopado)

Tipo N (dopado com Si)

Resistividade (300K)

< 0,5 Q・cm

< 0,05 Q・cm

Concentração do transportador

< 5x1017cm-3

> 1x1018cm-3

Mobilidade

~ 300 cm2/Vs

~ 200 cm2/Vs

Densidade de deslocamento

Menos de 5x108cm-2(calculado a partir da largura a meia altura (FWHM) da difração de raios X)

Estrutura do substrato

GaN sobre Safira (Padrão: SSP Opção: DSP)

Área de superfície útil

> 90%

Pacote

Embalados em ambiente de sala limpa classe 100, em cassetes de 25 unidades ou em recipientes individuais para wafers, sob atmosfera de nitrogênio.

Diagrama detalhado

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