Substrato de SiC de 3 polegadas, diâmetro de produção 76,2 mm, 4H-N
As principais características dos wafers MOSFET de carbeto de silício de 3 polegadas são as seguintes:
O carboneto de silício (SiC) é um material semicondutor de banda proibida larga, caracterizado por alta condutividade térmica, alta mobilidade eletrônica e alta rigidez dielétrica. Essas propriedades tornam os wafers de SiC excelentes para aplicações de alta potência, alta frequência e alta temperatura. Particularmente no politipo 4H-SiC, sua estrutura cristalina proporciona excelente desempenho eletrônico, tornando-o o material de escolha para dispositivos eletrônicos de potência.
O wafer de carbeto de silício 4H-N de 3 polegadas é um wafer dopado com nitrogênio com condutividade do tipo N. Esse método de dopagem confere ao wafer uma maior concentração de elétrons, melhorando assim o desempenho condutivo do dispositivo. O tamanho do wafer, de 3 polegadas (diâmetro de 76,2 mm), é uma dimensão comumente usada na indústria de semicondutores, adequada para diversos processos de fabricação.
O wafer de carbeto de silício 4H-N de 3 polegadas é produzido utilizando o método de Transporte Físico de Vapor (PVT). Este processo envolve a transformação do pó de SiC em monocristais a altas temperaturas, garantindo a qualidade cristalina e a uniformidade do wafer. Além disso, a espessura do wafer é tipicamente em torno de 0,35 mm, e sua superfície é submetida a polimento em ambos os lados para atingir um nível extremamente alto de planicidade e suavidade, o que é crucial para os processos subsequentes de fabricação de semicondutores.
A gama de aplicações do wafer de carbeto de silício 4H-N de 3 polegadas é extensa, incluindo dispositivos eletrônicos de alta potência, sensores de alta temperatura, dispositivos de radiofrequência e dispositivos optoeletrônicos. Seu excelente desempenho e confiabilidade permitem que esses dispositivos operem de forma estável em condições extremas, atendendo à demanda por materiais semicondutores de alto desempenho na indústria eletrônica moderna.
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Diagrama detalhado



