Transmitância ótica alta DSP/SSP da janela da safira da bolacha da safira de Dia50.8mm

Breve descrição:

Devido à estrutura menos incompatível e às propriedades químicas e físicas estáveis, o wafer de safira (Al2O3) é o substrato popular para nitretos III-V, supercondutores e epifilme magnético. Eles são amplamente utilizados no crescimento epitaxial de GaN e de filme fino, silício em safira, mercado de LED e indústria óptica.


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Por que Safira?

Características da safira de cristal único
1. A safira tem uma alta transmitância óptica, por isso é amplamente utilizada como material dielétrico de tubo microeletrônico, elemento de condução ultrassônica, cavidade de laser de guia de onda e outros elementos ópticos, como materiais de janela para dispositivos militares infravermelhos, veículos espaciais, lasers de alta intensidade e óptica comunicações.

2. A safira tem alta rigidez, alta resistência, alta temperatura de trabalho, resistência à abrasão, características de resistência à corrosão, portanto, o substrato de safira é frequentemente usado em ambientes agressivos, como medidor de água de caldeira (resistência a altas temperaturas), scanner de código de barras de commodities, rolamento, e outras manufaturas de precisão (resistência ao desgaste), carvão, gás, sensores de detecção de poços e janelas de detectores (anticorrosão).

3. A safira possui características de isolamento elétrico, transparência, boa condutividade térmica e alta rigidez, por isso pode ser usada como material de substrato de circuitos integrados, como LED e circuitos microeletrônicos, circuitos integrados de ultra-alta velocidade.

Especificação

Diâmetro 50,8 mm +/- 0,1 mm ou +/- 0,02 mm
Grossura 0,43 mm ± 0,1 mm ou +/- 0,02 mm
Orientação Plano C/Plano A/Plano M/Plano R
Qualidade da superfície (arranhar e escavar) 60/40, 40/20 ou melhor
Precisão de superfície λ/10, λ/2, λ
Abertura clara >85%, >90%
Paralelismo +/-3', +/-30''
Bisel 0,1 ~ 0,3 mm × 45 graus
Revestimento AR, BBAR ou mediante solicitação do cliente (UV, VIS, IR)
Não Propriedades
Alvo Tolerância Observações
1 Diâmetro
50,8 mm ± 0,1 mm  
2 Grossura  430μm ±15μm  
3 Orientação da superfície do plano C
fora do eixo C para M0,2° ± 0,1°  
4 Comprimento plano primário  16mm ±11 mm  
5 Orientação plana primária  Avião A (11-20) ±0,1°  
6 Rugosidade do verso  0,8~1,2um    
7 Rugosidade frontal  <0,3nm    
8 Borda de wafer  Tipo R    
9 Variação total da espessura, TTV
≤ 10μm(LTV≤5μm, 5*5)    
10 SORI
≤10μm    
11 Arco
-10 μm ≤ ARCO ≤ 0    
12 Marca a laser
N / D   não tenho
  Pacote 25 wafers em um cassete    
  Capacidade de rastreamento Os wafers devem ser rastreáveis ​​em relação ao número do cassete    

Perguntas frequentes

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Diagrama Detalhado

Transmitância ótica alta da janela da safira da bolacha da safira 1
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