Wafer de carboneto de silício SiC Wafer SiC 4H-N 6H-N HPSI (Semi-isolante de alta pureza) 4H/6H-P 3C -n tipo 2 3 4 6 8 polegadas disponível
Propriedades
4H-N e 6H-N (wafers de SiC tipo N)
Aplicativo:Usado principalmente em eletrônica de potência, optoeletrônica e aplicações de alta temperatura.
Faixa de diâmetro:50,8 mm a 200 mm.
Grossura:350 μm ± 25 μm, com espessuras opcionais de 500 μm ± 25 μm.
Resistividade:4H/6H-P tipo N: ≤ 0,1 Ω·cm (grau Z), ≤ 0,3 Ω·cm (grau P); Tipo N 3C-N: ≤ 0,8 mΩ·cm (grau Z), ≤ 1 mΩ·cm (grau P).
Rugosidade:Ra ≤ 0,2 nm (CMP ou MP).
Densidade do Microtubo (MPD):< 1 ea/cm².
TTV: ≤ 10 μm para todos os diâmetros.
Urdidura: ≤ 30 μm (≤ 45 μm para wafers de 8 polegadas).
Exclusão de borda:3 mm a 6 mm dependendo do tipo de wafer.
Embalagem:Cassete multi-wafer ou recipiente de wafer único.
Ohter tamanho disponível 3 polegadas 4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas
HPSI (wafers de SiC semi-isolantes de alta pureza)
Aplicativo:Usado para dispositivos que exigem alta resistência e desempenho estável, como dispositivos de RF, aplicações fotônicas e sensores.
Faixa de diâmetro:50,8 mm a 200 mm.
Grossura:Espessura padrão de 350 μm ± 25 μm com opções para wafers mais grossos de até 500 μm.
Rugosidade:Ra ≤ 0,2 nm.
Densidade do Microtubo (MPD): ≤ 1 ea/cm².
Resistividade:Alta resistência, normalmente utilizada em aplicações semi-isolantes.
Urdidura: ≤ 30 μm (para tamanhos menores), ≤ 45 μm para diâmetros maiores.
TTV: ≤ 10 μm.
Ohter tamanho disponível 3 polegadas 4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas
4H-P、6H-P&3C Bolacha de SiC(Waffers de SiC tipo P)
Aplicativo:Principalmente para dispositivos de potência e alta frequência.
Faixa de diâmetro:50,8 mm a 200 mm.
Grossura:350 μm ± 25 μm ou opções personalizadas.
Resistividade:Tipo P 4H/6H-P: ≤ 0,1 Ω·cm (grau Z), ≤ 0,3 Ω·cm (grau P).
Rugosidade:Ra ≤ 0,2 nm (CMP ou MP).
Densidade do Microtubo (MPD):< 1 ea/cm².
TTV: ≤ 10 μm.
Exclusão de borda:3 mm a 6 mm.
Urdidura: ≤ 30 μm para tamanhos menores, ≤ 45 μm para tamanhos maiores.
Ohter tamanho disponível 3 polegadas 4 polegadas 6 polegadas5×5 10×10
Tabela de parâmetros de dados parciais
Propriedade | 2 polegadas | 3 polegadas | 4 polegadas | 6 polegadas | 8 polegadas | |||
Tipo | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI/4H-SEMI | |||
Diâmetro | 50,8±0,3mm | 76,2±0,3 mm | 100±0,3 mm | 150±0,3 mm | 200±0,3mm | |||
Grossura | 330 ± 25um | 350 ±25um | 350 ±25um | 350 ±25um | 350 ±25um | |||
350±25um; | 500±25um | 500±25um | 500±25um | 500±25um | ||||
ou personalizado | ou personalizado | ou personalizado | ou personalizado | ou personalizado | ||||
Rugosidade | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | |||
Urdidura | ≤ 30um | ≤ 30um | ≤ 30um | ≤ 30um | ≤45um | |||
TTV | ≤ 10um | ≤ 10um | ≤ 10um | ≤ 10um | ≤ 10um | |||
Arranhar/Escavar | CMP/MP | |||||||
MPD | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | |||
Forma | Redondo, plano 16 mm; DE comprimento 22 mm; DE Comprimento 30/32,5mm; DE Comprimento 47,5 mm; ENTALHE; ENTALHE; | |||||||
Bisel | 45°, SEMI Spec; Forma C | |||||||
Nota | Grau de produção para MOS e SBD; Grau de pesquisa; Grau fictício, grau de wafer de semente | |||||||
Observações | Diâmetro, Espessura, Orientação, especificações acima podem ser personalizadas mediante sua solicitação |
Aplicativos
·Eletrônica de Potência
Os wafers SiC tipo N são cruciais em dispositivos eletrônicos de potência devido à sua capacidade de lidar com alta tensão e alta corrente. Eles são comumente usados em conversores de energia, inversores e acionamentos de motores para indústrias como energia renovável, veículos elétricos e automação industrial.
· Optoeletrônica
Os materiais SiC tipo N, especialmente para aplicações optoeletrônicas, são empregados em dispositivos como diodos emissores de luz (LEDs) e diodos laser. Sua alta condutividade térmica e amplo bandgap os tornam ideais para dispositivos optoeletrônicos de alto desempenho.
·Aplicações de alta temperatura
Os wafers SiC 4H-N 6H-N são adequados para ambientes de alta temperatura, como em sensores e dispositivos de energia usados em aplicações aeroespaciais, automotivas e industriais, onde a dissipação de calor e a estabilidade em temperaturas elevadas são críticas.
·Dispositivos RF
Os wafers SiC 4H-N 6H-N são usados em dispositivos de radiofrequência (RF) que operam em faixas de alta frequência. Eles são aplicados em sistemas de comunicação, tecnologia de radar e comunicações via satélite, onde são necessários alto desempenho e eficiência energética.
·Aplicações fotônicas
Na fotônica, os wafers de SiC são usados para dispositivos como fotodetectores e moduladores. As propriedades únicas do material permitem que ele seja eficaz na geração, modulação e detecção de luz em sistemas de comunicação óptica e dispositivos de imagem.
·Sensores
Os wafers de SiC são usados em diversas aplicações de sensores, especialmente em ambientes severos onde outros materiais podem falhar. Isso inclui sensores de temperatura, pressão e químicos, que são essenciais em áreas como automotiva, petróleo e gás e monitoramento ambiental.
·Sistemas de acionamento de veículos elétricos
A tecnologia SiC desempenha um papel significativo nos veículos elétricos, melhorando a eficiência e o desempenho dos sistemas de propulsão. Com os semicondutores de potência SiC, os veículos elétricos podem alcançar melhor vida útil da bateria, tempos de carregamento mais rápidos e maior eficiência energética.
·Sensores Avançados e Conversores Fotônicos
Em tecnologias avançadas de sensores, os wafers de SiC são usados para criar sensores de alta precisão para aplicações em robótica, dispositivos médicos e monitoramento ambiental. Nos conversores fotônicos, as propriedades do SiC são exploradas para permitir a conversão eficiente de energia elétrica em sinais ópticos, o que é vital nas telecomunicações e na infraestrutura de internet de alta velocidade.
Perguntas e respostas
Q:O que é 4H em 4H SiC?
A:"4H" em 4H SiC refere-se à estrutura cristalina do carboneto de silício, especificamente uma forma hexagonal com quatro camadas (H). O “H” indica o tipo de politipo hexagonal, distinguindo-o de outros politipos de SiC como 6H ou 3C.
Q:Qual é a condutividade térmica do 4H-SiC?
A:A condutividade térmica do 4H-SiC (carboneto de silício) é de aproximadamente 490-500 W/m·K à temperatura ambiente. Esta alta condutividade térmica o torna ideal para aplicações em eletrônica de potência e ambientes de alta temperatura, onde a dissipação eficiente de calor é crucial.