Pastilha de dióxido de silício (SiO2) espessa, polida, de primeira qualidade e para testes.

Descrição resumida:

A oxidação térmica resulta da exposição de uma lâmina de silício a uma combinação de agentes oxidantes e calor para formar uma camada de dióxido de silício (SiO2). Nossa empresa pode personalizar flocos de óxido de silício com diferentes parâmetros para os clientes, com excelente qualidade; a espessura da camada de óxido, a compactação, a uniformidade e a orientação cristalina da resistividade são todas implementadas de acordo com as normas nacionais.


Características

Introdução à caixa de wafers

Produto Pastilhas de óxido térmico (Si+SiO2)
Método de produção LPCVD
Polimento de superfície SSP/DSP
Diâmetro 2 polegadas / 3 polegadas / 4 polegadas / 5 polegadas / 6 polegadas
Tipo Tipo P / Tipo N
Espessura da camada de oxidação 100nm ~1000nm
Orientação <100> <111>
Resistividade elétrica 0,001-25000(Ω•cm)
Aplicativo Utilizado como suporte para amostras de radiação síncrotron, revestimento PVD/CVD como substrato, amostra para crescimento por pulverização catódica magnetrônica, XRD, MEV.Substratos para testes de força atômica, espectroscopia infravermelha, espectroscopia de fluorescência e outras análises, substratos para crescimento epitaxial por feixe molecular, análise de raios X de semicondutores cristalinos.

As lâminas de óxido de silício são filmes de dióxido de silício crescidos na superfície de lâminas de silício por meio de oxigênio ou vapor de água a altas temperaturas (800 °C a 1150 °C) usando um processo de oxidação térmica com equipamento de forno tubular à pressão atmosférica. A espessura do processo varia de 50 nanômetros a 2 micrômetros, a temperatura do processo chega a 1100 graus Celsius, e o método de crescimento é dividido em dois tipos: "oxigênio úmido" e "oxigênio seco". O óxido térmico é uma camada de óxido "crescida", que apresenta maior uniformidade, melhor densificação e maior rigidez dielétrica do que as camadas de óxido depositadas por CVD, resultando em qualidade superior.

Oxidação com Oxigênio Seco

O silício reage com o oxigênio e a camada de óxido se move constantemente em direção à camada do substrato. A oxidação a seco precisa ser realizada a temperaturas de 850 a 1200 °C, com taxas de crescimento mais baixas, e pode ser usada para o crescimento de transistores MOS com porta isolada. A oxidação a seco é preferível à oxidação úmida quando se requer uma camada de óxido de silício ultrafina e de alta qualidade. Capacidade de oxidação a seco: 15 nm a 300 nm.

2. Oxidação Úmida

Este método utiliza vapor de água para formar uma camada de óxido ao entrar no tubo do forno sob condições de alta temperatura. A densificação da oxidação úmida com oxigênio é ligeiramente inferior à da oxidação seca com oxigênio, mas, em comparação com esta última, apresenta uma vantagem: uma taxa de crescimento mais elevada, adequada para o crescimento de filmes com espessura superior a 500 nm. Capacidade de oxidação úmida: 500 nm ~ 2 µm.

O tubo para forno de oxidação à pressão atmosférica da AEMD é um tubo horizontal de fabricação tcheca, caracterizado por alta estabilidade do processo, boa uniformidade da película e excelente controle de partículas. O tubo para forno de óxido de silício pode processar até 50 wafers por tubo, com excelente uniformidade intra e inter-wafers.

Diagrama detalhado

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