Wafer de substrato SiC 4H-semi HPSI de 2 polegadas para produção (dummy de pesquisa)

Descrição resumida:

O substrato de carbeto de silício monocristalino de 2 polegadas é um material de alto desempenho com propriedades físicas e químicas excepcionais. É feito de carbeto de silício monocristalino de alta pureza, com excelente condutividade térmica, estabilidade mecânica e resistência a altas temperaturas. Graças ao seu processo de fabricação de alta precisão e materiais de alta qualidade, este chip é um dos materiais preferidos para a fabricação de dispositivos eletrônicos de alto desempenho em diversas áreas.


Características

Wafer de SiC com substrato de carbeto de silício semi-isolante

O substrato de carbeto de silício é dividido principalmente em condutor e semi-isolante. O substrato condutor de carbeto de silício do tipo n é usado principalmente para LEDs epitaxiais baseados em GaN e outros dispositivos optoeletrônicos, dispositivos eletrônicos de potência baseados em SiC, etc. Já o substrato semi-isolante de carbeto de silício SiC é usado principalmente na fabricação epitaxial de dispositivos de radiofrequência de alta potência de GaN. Além disso, o carbeto de silício semi-isolante de alta pureza (HPSI) difere do semi-isolante de alta pureza (SI). O semi-isolante de alta pureza apresenta uma concentração de portadores na faixa de 3,5 * 10¹³ a 8 * 10¹⁵/cm³, com alta mobilidade eletrônica. O semi-isolante é um material de alta resistência, geralmente usado como substrato para dispositivos de micro-ondas, e não condutor.

Folha de substrato de carbeto de silício semi-isolante, wafer de SiC

A estrutura cristalina do SiC determina suas propriedades físicas. Em comparação com o Si e o GaAs, o SiC apresenta as seguintes propriedades físicas: largura da banda proibida grande, quase 3 vezes maior que a do Si, garantindo a operação confiável do dispositivo em altas temperaturas e a longo prazo; alta rigidez dielétrica, 10 vezes maior que a do Si, assegurando a capacidade de tensão do dispositivo e melhorando seu valor; alta taxa de saturação de elétrons, 2 vezes maior que a do Si, aumentando a frequência e a densidade de potência do dispositivo; alta condutividade térmica, mais de 3 vezes maior que a do Si, aumentando a capacidade de dissipação de calor do dispositivo e possibilitando sua miniaturização.

Diagrama detalhado

4H-semi HPSI 2 polegadas SiC (1)
4H-semi HPSI 2 polegadas SiC (2)

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