100mm 4 polegadas GaN em wafer de camada Epi de safira Wafer epitaxial de nitreto de gálio
O processo de crescimento da estrutura do poço quântico de LED azul GaN. O fluxo detalhado do processo é o seguinte
(1) Cozimento em alta temperatura, o substrato de safira é primeiro aquecido a 1050 ℃ em uma atmosfera de hidrogênio, o objetivo é limpar a superfície do substrato;
(2) Quando a temperatura do substrato cai para 510 ℃, uma camada tampão GaN/AlN de baixa temperatura com espessura de 30 nm é depositada na superfície do substrato de safira;
(3) Aumento da temperatura para 10 ℃, o gás de reação amônia, trimetilgálio e silano são injetados, controlando respectivamente a taxa de fluxo correspondente, e o GaN do tipo N dopado com silício de 4um de espessura é cultivado;
(4) O gás de reação de trimetil alumínio e trimetil gálio foi usado para preparar continentes N tipo A⒑ dopados com silício com espessura de 0,15um;
(5) InGaN dopado com Zn 50 nm foi preparado injetando trimetilgálio, trimetilíndio, dietilzinco e amônia a uma temperatura de 8O0 ℃ e controlando diferentes taxas de fluxo, respectivamente;
(6) A temperatura foi aumentada para 1020 ℃, trimetilalumínio, trimetilgálio e bis (ciclopentadienil) magnésio foram injetados para preparar AlGaN tipo P dopado com 0,15um Mg e glicose sanguínea tipo G dopada com 0,5um Mg;
(7) O filme GaN Sibuyan tipo P de alta qualidade foi obtido por recozimento em atmosfera de nitrogênio a 700 ℃;
(8) Gravura na superfície de estase G tipo P para revelar a superfície de estase G tipo N;
(9) Evaporação de placas de contato Ni/Au na superfície p-GaNI, evaporação de placas de contato △/Al na superfície ll-GaN para formar eletrodos.
Especificações
Item | GaN-TCU-C100 | GaN-TCN-C100 |
Dimensões | e 100 mm ± 0,1 mm | |
Grossura | 4,5±0,5um Pode ser personalizado | |
Orientação | Plano C (0001) ±0,5° | |
Tipo de condução | Tipo N (não dopado) | Tipo N (dopado com Si) |
Resistividade (300K) | < 0,5 Q・cm | < 0,05 Q・cm |
Concentração de Transportadora | <5x1017cm-3 | > 1x1018cm-3 |
Mobilidade | ~ 300 centímetros2/Vs | ~ 200 centímetros2/Vs |
Densidade de Luxação | Menos de 5x108cm-2(calculado por FWHMs de XRD) | |
Estrutura do substrato | GaN em Sapphire (Padrão: Opção SSP: DSP) | |
Área de superfície utilizável | > 90% | |
Pacote | Embalado em ambiente de sala limpa classe 100, em cassetes de 25 unidades ou recipientes de wafer único, sob atmosfera de nitrogênio. |