100mm 4 polegadas GaN em wafer de camada Epi de safira Wafer epitaxial de nitreto de gálio

Breve descrição:

A folha epitaxial de nitreto de gálio é um representante típico da terceira geração de materiais epitaxiais semicondutores de banda larga, que possui excelentes propriedades, como banda larga, alta intensidade de campo de ruptura, alta condutividade térmica, alta velocidade de deriva de saturação de elétrons, forte resistência à radiação e alta estabilidade química.


Detalhes do produto

Etiquetas de produto

O processo de crescimento da estrutura do poço quântico de LED azul GaN. O fluxo detalhado do processo é o seguinte

(1) Cozimento em alta temperatura, o substrato de safira é primeiro aquecido a 1050 ℃ em uma atmosfera de hidrogênio, o objetivo é limpar a superfície do substrato;

(2) Quando a temperatura do substrato cai para 510 ℃, uma camada tampão GaN/AlN de baixa temperatura com espessura de 30 nm é depositada na superfície do substrato de safira;

(3) Aumento da temperatura para 10 ℃, o gás de reação amônia, trimetilgálio e silano são injetados, controlando respectivamente a taxa de fluxo correspondente, e o GaN do tipo N dopado com silício de 4um de espessura é cultivado;

(4) O gás de reação de trimetil alumínio e trimetil gálio foi usado para preparar continentes N tipo A⒑ dopados com silício com espessura de 0,15um;

(5) InGaN dopado com Zn 50 nm foi preparado injetando trimetilgálio, trimetilíndio, dietilzinco e amônia a uma temperatura de 8O0 ℃ e controlando diferentes taxas de fluxo, respectivamente;

(6) A temperatura foi aumentada para 1020 ℃, trimetilalumínio, trimetilgálio e bis (ciclopentadienil) magnésio foram injetados para preparar AlGaN tipo P dopado com 0,15um Mg e glicose sanguínea tipo G dopada com 0,5um Mg;

(7) O filme GaN Sibuyan tipo P de alta qualidade foi obtido por recozimento em atmosfera de nitrogênio a 700 ℃;

(8) Gravura na superfície de estase G tipo P para revelar a superfície de estase G tipo N;

(9) Evaporação de placas de contato Ni/Au na superfície p-GaNI, evaporação de placas de contato △/Al na superfície ll-GaN para formar eletrodos.

Especificações

Item

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Dimensões

e 100 mm ± 0,1 mm

Grossura

4,5±0,5um Pode ser personalizado

Orientação

Plano C (0001) ±0,5°

Tipo de condução

Tipo N (não dopado)

Tipo N (dopado com Si)

Resistividade (300K)

< 0,5 Q・cm

< 0,05 Q・cm

Concentração de Transportadora

<5x1017cm-3

> 1x1018cm-3

Mobilidade

~ 300 centímetros2/Vs

~ 200 centímetros2/Vs

Densidade de Luxação

Menos de 5x108cm-2(calculado por FWHMs de XRD)

Estrutura do substrato

GaN em Sapphire (Padrão: Opção SSP: DSP)

Área de superfície utilizável

> 90%

Pacote

Embalado em ambiente de sala limpa classe 100, em cassetes de 25 unidades ou recipientes de wafer único, sob atmosfera de nitrogênio.

Diagrama Detalhado

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