Wafer epitaxial de nitreto de gálio de 100 mm e 4 polegadas de GaN em camada epi de safira

Descrição curta:

A folha epitaxial de nitreto de gálio é uma representante típica da terceira geração de materiais epitaxiais semicondutores de banda larga, que tem excelentes propriedades, como banda larga, alta intensidade de campo de ruptura, alta condutividade térmica, alta velocidade de deriva de saturação de elétrons, forte resistência à radiação e alta estabilidade química.


Detalhes do produto

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O processo de crescimento da estrutura do poço quântico do LED azul GaN. O fluxo detalhado do processo é o seguinte:

(1) Cozimento em alta temperatura, o substrato de safira é primeiro aquecido a 1050 ℃ em uma atmosfera de hidrogênio, o objetivo é limpar a superfície do substrato;

(2) Quando a temperatura do substrato cai para 510 ℃, uma camada tampão GaN/AlN de baixa temperatura com uma espessura de 30 nm é depositada na superfície do substrato de safira;

(3) Aumento da temperatura para 10 ℃, o gás de reação amônia, trimetilgálio e silano são injetados, controlando respectivamente a taxa de fluxo correspondente, e o GaN tipo N dopado com silício de 4um de espessura é cultivado;

(4) O gás de reação de trimetil alumínio e trimetil gálio foi usado para preparar continentes A⒑ do tipo N dopados com silício com uma espessura de 0,15 µm;

(5) InGaN dopado com Zn de 50 nm foi preparado pela injeção de trimetilgálio, trimetilíndio, dietilzinco e amônia a uma temperatura de 800℃ e controlando diferentes taxas de fluxo, respectivamente;

(6) A temperatura foi aumentada para 1020℃, trimetilalumínio, trimetilgálio e bis (ciclopentadienil) magnésio foram injetados para preparar 0,15um Mg dopado com AlGaN tipo P e 0,5um Mg dopado com glicose sanguínea G tipo P;

(7) O filme GaN Sibuyan tipo P de alta qualidade foi obtido por recozimento em atmosfera de nitrogênio a 700 ℃;

(8) Gravação na superfície de estase G do tipo P para revelar a superfície de estase G do tipo N;

(9) Evaporação de placas de contato Ni/Au na superfície p-GaNI, evaporação de placas de contato △/Al na superfície ll-GaN para formar eletrodos.

Especificações

Item

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Dimensões

e 100 mm ± 0,1 mm

Grossura

4,5±0,5 um Pode ser personalizado

Orientação

Plano C(0001) ±0,5°

Tipo de condução

Tipo N (não dopado)

Tipo N (dopado com Si)

Resistividade (300K)

< 0,5 Q・cm

< 0,05 Q・cm

Concentração de Portadores

< 5x1017cm-3

> 1x1018cm-3

Mobilidade

~ 300 cm2/Vs

~ 200 cm2/Vs

Densidade de deslocamento

Menos de 5x108cm-2(calculado por FWHMs de XRD)

Estrutura do substrato

GaN em Sapphire (Padrão: SSP Opção: DSP)

Área de superfície utilizável

> 90%

Pacote

Embalado em ambiente de sala limpa classe 100, em cassetes de 25 unidades ou recipientes de wafer individuais, sob atmosfera de nitrogênio.

Diagrama Detalhado

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