Wafer de GaN de 50,8 mm (2 polegadas) sobre camada epitaxial de safira
Aplicação de lâmina epitaxial de nitreto de gálio (GaN)
Devido ao desempenho do nitreto de gálio, os chips epitaxiais de nitreto de gálio são principalmente adequados para aplicações de alta potência, alta frequência e baixa tensão.
Isso se reflete em:
1) Alto bandgap: O alto bandgap melhora o nível de tensão dos dispositivos de nitreto de gálio e pode fornecer maior potência do que os dispositivos de arseneto de gálio, sendo especialmente adequado para estações base de comunicação 5G, radares militares e outros campos;
2) Alta eficiência de conversão: a resistência de condução dos dispositivos eletrônicos de potência de comutação de nitreto de gálio é 3 ordens de magnitude menor do que a dos dispositivos de silício, o que pode reduzir significativamente a perda de comutação;
3) Alta condutividade térmica: a alta condutividade térmica do nitreto de gálio proporciona um excelente desempenho de dissipação de calor, sendo adequado para a produção de dispositivos de alta potência, alta temperatura e outras aplicações;
4) Intensidade do campo elétrico de ruptura: Embora a intensidade do campo elétrico de ruptura do nitreto de gálio seja próxima à do nitreto de silício, devido ao processo semicondutor, à incompatibilidade da rede cristalina do material e a outros fatores, a tolerância à tensão dos dispositivos de nitreto de gálio geralmente é de cerca de 1000V, e a tensão de uso segura geralmente é inferior a 650V.
| Item | GaN-TCU-C50 | GaN-TCN-C50 | GaN-TCP-C50 |
| Dimensões | e 50,8 mm ± 0,1 mm | ||
| Grossura | 4,5±0,5 µm | 4,5±0,5µm | |
| Orientação | Plano C(0001) ±0,5° | ||
| Tipo de condução | Tipo N (Não dopado) | Tipo N (dopado com Si) | Tipo P (dopado com Mg) |
| Resistividade (300K) | < 0,5 Q・cm | < 0,05 Q・cm | ~ 10 Q・cm |
| Concentração do transportador | < 5x1017cm-3 | > 1x1018cm-3 | > 6x1016 cm-3 |
| Mobilidade | ~ 300 cm2/Vs | ~ 200 cm2/Vs | ~ 10 cm2/Vs |
| Densidade de deslocamento | Menos de 5x108cm-2(calculado a partir da largura a meia altura (FWHM) da difração de raios X) | ||
| Estrutura do substrato | GaN sobre Safira (Padrão: SSP Opção: DSP) | ||
| Área de superfície útil | > 90% | ||
| Pacote | Embalados em ambiente de sala limpa classe 100, em cassetes de 25 unidades ou em recipientes individuais para wafers, sob atmosfera de nitrogênio. | ||
* Outras espessuras podem ser personalizadas
Diagrama detalhado



